行業(yè)新聞|2023-11-16|admin
寫這篇論文的目的不是別的，而是資源共享。希望國內(nèi)的有志之士也能研制出世界一流的ICT檢測設(shè)備。讓我們看看他們ICT檢測設(shè)備的技術(shù)組件在哪里。我們可以開發(fā)每臺成本約500萬美元的信通技術(shù)ICT檢測設(shè)備。
ICT檢測設(shè)備，即在電路測試、電路板內(nèi)部電路測試中，這類設(shè)備是為了快速檢查電路板的缺陷。用于大規(guī)模生產(chǎn)的設(shè)備。
我們使用的ICT檢測設(shè)備的功能無非就是這些：1。接觸測試，即開路測試。
2.短路試驗，即短路試驗。
3.OX/JX測試。即連接器測試(也可以測量BGA和IC是否無焊料。
4.組件測試，即組件測試。元器件測試分為電阻測試、電容測試和電感測試。
5.上電測試，即測試IC部分。為了燃燒。
這五種功能的設(shè)備每臺價值500萬美元，前四種功能的測試儀器每臺也能賣到100萬(據(jù)我所知有幾臺測試儀器)。看看他們的測試原理。
接觸試驗
開路測試，給指定的測試點一定的電壓，在另一個指定點測量電壓。如果電壓小于給定值，說明這一點有問題。這種電路不難吧？網(wǎng)上有很多經(jīng)典的硬件電路。
短期測試
短路測試是測試兩點之間的電阻。該理論與電阻測試相同，[敏感詞]將詳細(xì)描述。
OX/JX測試
上部傳感器芯片和下部針尖發(fā)出交流信號。傳感器芯片感應(yīng)到的信號在一定范圍內(nèi)，超出范圍則判斷有問題。
部件試驗
元件測試更簡單，電感可以按零電阻計算(所有測試儀器都這樣做)。在元件的一端施加電流，在另一端測試電壓(簡單，如果你想要硬件電路圖，我這里有，[敏感詞]到0.03%，13642869852 email : lof _ lripa @ 163 . com)。
另外，并聯(lián)電阻的測試也很巧妙。它利用運(yùn)算放大器的虛連接和等電壓特性。測試方法如下：
電阻R2兩端的電壓相等，電流為0。因此，被測電阻R1的電流為I作為給定電流，這樣就可以測出電壓V，R1值為R=V/I
用運(yùn)算放大器測試。從“A”點來看“虛擬土地”的概念是：* Ix=Iref # f h . d . y/v . e . j
rx=vs/v0 * rref * f ' n-o7 l r5 v0 n1 e9 x；m
Vs和Rref分別是激勵信號源和儀表計算電阻。測量V0，然后可以找到Rx。8 e A0 G6 y9 A(N；M* g
如果待測Rx是電容或電感，那么Vs交流信號源，Rx是阻抗形式，也可以得到C或L。1 _，\ Q F- q' c
?。' @4 L' Q: D0 N！I1 W |
通電測試，即通電測試
上電測試是測量IC的功能，比如邏輯器件，只測量真值表。測試集成電路功能是否有問題。還有所謂的邊界掃描測試，也就是邊界掃描。給IC的管腳一個定時，檢測其他管腳上的信號是一種測試，這是測試IC的一個連接問題。據(jù)說這是一種先進(jìn)的測試方法。
測試原理已經(jīng)完成，這些原理是基本數(shù)字模擬信號的應(yīng)用。如果你想知道具體的參數(shù)，請聯(lián)系我。另外，我可以簡單講一下我開發(fā)的測試設(shè)備的硬件結(jié)構(gòu)：
主要有兩種硬件結(jié)構(gòu)：1。功能板。2.尋址板(尋址意味著找到指定的針尖)可以通過以下方式使用：
功能板用于連接計算機(jī)，產(chǎn)生和測量電流和電壓信號，控制尋址板，可由現(xiàn)場可編程門陣列控制。通過將尋址板所連接的引腳位置與產(chǎn)生的信號相連接，可以控制待測試板的每個組件。尋址板也可以使用FPGA找到指定的管腳點。如果有太多128或256針點，將使用繼電器。
以上是對一個ICT檢測設(shè)備的原理和結(jié)構(gòu)的一些描述，供有志之士參考。如果有錯請指正。
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